3360-D VLSI測試系統(tǒng)

更新時間：2024-11-10

簡要描述：

3360-D VLSI測試系統(tǒng)
主要特色：
?50 MHz 測試頻率
?32/64 個 I/O 通道
?8M （標(biāo)準(zhǔn)） /16M （選購） Pattern 記憶體
?彈性化硬體結(jié)構(gòu)
?平行測試 : Z多 8 DUTs

免費咨詢：0755-23217122

主要特色：

50 MHz 測試頻率
32/64 個 I/O 通道
8M (標(biāo)準(zhǔn)) /16M (選購) Pattern 記憶體
彈性化硬體結(jié)構(gòu)
平行測試 : zui多 8 DUTs
Real Parallel Trim/Match 功能
時序頻率測試單位 Timing / Frequency measurement unit (TFMU)
測試程式/pattern 轉(zhuǎn)換器 (V7, V50, SC312, J750)
Analog PE card 選配 (16 bits)
SCAN 測試選配 (512M)
ALPG 測試選配供記憶體用
STDF 工具支援 (選配)
人性化 Windows XP 操作環(huán)境
CRAFT C/C++ 程式語言
即時pattern編輯器，含F(xiàn)ail pin/address顯示
多樣化的測試解析工具 : Shmoo plot, Waveform display, Wafer Map, Pin Margin, Scope tool, Histogram tool and etc.

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主營產(chǎn)品：模擬制式信號發(fā)生器TG39BX（54200）,DVB-T2數(shù)字信號發(fā)生器SFU（MSD5000A）,CA-410（CA310）色彩分析儀

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